測(cè)定晶體物質(zhì)的熔點(diǎn)以確定其純度。主要用于藥物、染料、香料等晶體有機(jī)化合物熔點(diǎn)之測(cè)定。光電檢測(cè),大屏幕背光液晶顯示,數(shù)字鍵盤(pán)輸入,屏幕直接顯示熔化曲線(xiàn)。
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至300°C 溫度顯示Z小示值:0.1°C 線(xiàn)性升溫速率:0.2-5(°C/min)
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:40°C-280°C 溫度顯示Z小示值:0.1°C 線(xiàn)性升溫速率:0.5,1,1.5,3(°C/min)
線(xiàn)性升溫速率:0.2 ℃/min, 1℃/min,1.5℃/min, 3℃/min, 示值誤差:小于200 ℃ 范圍內(nèi):±0.5 ℃ 200 ℃ -300℃ 范圍內(nèi):±0.8 ℃
1.熔點(diǎn)測(cè)量范圍: 室溫~400℃ 2.“起始溫度”設(shè)定時(shí)間:50℃~400℃ 不大于5min 400℃~50℃ 不大于7min