顯微熔點(diǎn)儀X-4

簡要描述：熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃ 測量重復(fù)性：±1℃(在<200℃時(shí)) ±2℃(在200～300℃時(shí))

產(chǎn)品型號： X-4

所屬分類：熔點(diǎn)儀

更新時(shí)間：2024-08-19

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。

X-4顯微熔點(diǎn)儀產(chǎn)品介紹

熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃

測量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)）
          ±2℃（在200～300℃時(shí)）

光學(xué)放大倍數(shù)：目鏡10X；物境4X

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